產(chǎn)品概要:
CXT2668系列四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途寬量程綜合測量設備, 同時(shí)也是電阻率測試儀、電導率測試儀.該儀器是按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，可用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻及其它各種材料)的專(zhuān)用儀器。儀器運用雙電測原理，進(jìn)行多次測量，自動(dòng)消減樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測相比，大大提高測量精度和一致性。
儀器選配 U盤(pán)數據記錄接口，可方便的進(jìn)行測試數據的記錄；標配USB接口和RS232接口可與電腦相連接；電腦配套操作軟件可以方便直觀(guān)的直接對儀器進(jìn)行全功能操作、并記錄數據,方便對材料進(jìn)行電氣分析。儀器測量精度高、穩定性好、智能化程度高、操作簡(jiǎn)單、測試結果顯示直觀(guān)，廣泛運用于半導體材料廠(chǎng)、科研單位、高等院校等對各種半導體、類(lèi)半導體材料、導體材料及各種新材料的導電性能的測試。
適用范圍：
適用于片狀或塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層、太陽(yáng)能等材料的測試.配置不同的測試探頭，可以測量柔性材料導電薄膜、金屬涂層或陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層材料的電阻率/方阻.也可使用電阻測試夾具直接測量電阻器電阻.
產(chǎn)品描述:
電阻測試范圍:1uΩ-100MΩ;方阻測試范圍: 1uΩ/□-100MΩ/□; 電阻率測試范圍取決于電阻測試范圍及被測件尺寸.
