產(chǎn)品介紹:
CXT2661型四探針?lè )綁K電阻測試儀，同時(shí)也是電阻率測試儀、電導率測試儀.本儀器是一款低功耗手持式儀器，適用于片狀或塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻率測試、太陽(yáng)能等材料的測試，配置不同的測試探頭，可以測量柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方塊電阻，也可使用電阻測試夾具直接測量電阻器電阻、開(kāi)關(guān)接觸電阻等。
適用范圍:
儀器可根據客戶(hù)需要配置不同的測試探頭，測量半導體材料、柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、太陽(yáng)能材料、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方阻，也可使用電阻測試夾具直接測量電阻器電阻、開(kāi)關(guān)接觸電阻等。 本儀器采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
儀器適用于半導體材料廠(chǎng)、器件廠(chǎng)、科研單位、高等院校等研究生產(chǎn)單位對導體、半導體材料、類(lèi)半導體材料、器件的導電性能的測試，滿(mǎn)足對材料(棒材、片材等)和導電薄膜方塊電阻測量的需要。
產(chǎn)品描述:
電阻測試范圍:1mΩ-100KΩ;方阻測試范圍: 1mΩ/□-100KΩ/□; 電阻率測試范圍取決于電阻測試范圍及被測件尺寸;手持大容量電池方便攜帶
